為什么要檢測(cè)IC芯片針腳及其平整度

用于檢測(cè)各種IC芯片針腳及其平整度

平整度檢驗(yàn)是專門(mén)用于檢測(cè)各類IC芯片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等參數(shù)的自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)簡(jiǎn)單設(shè)定即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)識(shí)別與檢測(cè)，無(wú)需人員操作。

平整度檢驗(yàn)儀檢測(cè)精度可達(dá)0.01mm以上，支持預(yù)設(shè)平整度誤差范圍并輸出控制信號(hào)剔除不合格品。主要功能包括檢測(cè)針腳數(shù)量、測(cè)量pitch間隔/寬度/高度等幾何尺寸、分析針腳共線度等平整度指標(biāo)。系統(tǒng)配備報(bào)警裝置及圖像存儲(chǔ)功能，具有自學(xué)習(xí)能力，可通過(guò)RS232接口或以太網(wǎng)接收外部控制指令。

平整度檢驗(yàn)儀圖像清晰直觀，可以方便快速準(zhǔn)確的檢驗(yàn)產(chǎn)品的平面度，明顯提高工作效率和產(chǎn)品質(zhì)量！平整度檢驗(yàn)在檢測(cè)標(biāo)定平面度時(shí)能達(dá)到0.01mm以上的精度?？筛鶕?jù)檢測(cè)要求設(shè)定平整度誤差范圍。對(duì)不符合要求的工件檢測(cè)后輸出控制信號(hào)，可用于剔除不合格品。

主要功能

檢測(cè)芯片針腳的個(gè)數(shù)；

可測(cè)量芯片針腳的多個(gè)位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；

檢測(cè)針腳的共線度等平整度指標(biāo)；

系統(tǒng)檢測(cè)到質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，能發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并輸出控制信號(hào)；

可對(duì)檢查出的所有廢品對(duì)應(yīng)的圖像能夠存儲(chǔ)和查看；

系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能，且學(xué)習(xí)過(guò)程操作簡(jiǎn)單；

系統(tǒng)可通過(guò)RS232接口或以太網(wǎng)接收上位機(jī)控制信號(hào)